Utility of the Backscattering Scanning Electron Microscopy in the Study of Peri-implantitis.

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dc.contributor.authorIvan Valdivia-Gandur
dc.contributor.authorWilson Astudillo-Rozas
dc.contributor.authorMaría Manzanares-Céspedez
dc.date.accessioned2025-07-15T13:17:47Z
dc.date.available2025-07-15T13:17:47Z
dc.date.issued2020
dc.description.sponsorshipGrant REDI170658 from the Comisión Nacional de Investigación Científica y Tecnológica (CONICYT) from the Chilean Government.
dc.identifier.doi10.17126/joralres.2020.026
dc.identifier.issn0719-2479
dc.identifier.urihttps://repositorioabierto.uantof.cl/handle/uantof/542
dc.language.isoen
dc.rightsAttribution 4.0 Internationalen
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.sourceJournal of Oral Research
dc.titleUtility of the Backscattering Scanning Electron Microscopy in the Study of Peri-implantitis.
dc.typeOther
oaire.citation.volumeS1(1)
organization.identifier.rorUniversidad de Antofagasta
uantof.identificator.departmentDepartamento de Odontología
uantof.identificator.departmentDepartamento Biomédico
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